本发明提供了一种电子元件液材施作方法及装置，其使载有待施作物件的载盘自一框盒被推入一输送流路，该输送流路中依序设有多个治具，载有待施作物件的载盘可在该输送流路中被输送，幷经由在一治具执行液材施作；在该输送流路中，待施作物件被一施作头执行...

本发明贴合制程的元件搬送方法及装置，包括：一到位步骤：使一移载机构的一移载座位移至一第一传送流路的一第一轨座所传送的一第一载座上一第一盘组件上方；一第一对位检测步骤：以一第一检视单元对应该第一元件的一贴合部位由上往下进行检测，以取得其位...

本实用新型提供一种芯片剥折工艺的片状芯片、待剥折芯片、推送机构及设备，该片状芯片其上被规划具有一电阻部位，该电阻部位前端形成一废料部，该电阻部位后端形成一夹持部，该电阻部位的两侧分别各形成一段侧边部；其中，该侧边部分别各包括靠该电阻部位...

本实用新型提供一种晶圆薄膜量测装置及量测系统，该晶圆薄膜量测装置包括：一第一取像单元，用以执行对一晶圆上的一量测位置的对位；一第二取像单元，用以发射一入射光至该量测位置，并接收由该量测位置所反射的反射光的光学数据；一载台，用于承载该晶圆...

本实用新型提供一种芯片剥折工艺的定位装置，包括：可作相对位移的一压模与一模座，其设于一剥折机构的可作、上下偏摆的一摆座前方，一待剥条芯片被由该摆座中推出时，准备被剥折的最前端的一条状芯片部位恰可前移至该压模与该模座间，该条状芯片部位可被...

本发明提供一种铁芯卷绕线材的方法及装置，包括：提供一铁芯，该铁芯包括一入线端的第一凸缘部、及一出线端的第二凸缘部，该第一凸缘部与该第二凸缘部间设为一卷芯部；提供一搬送装置，该搬送装置设有可作间歇旋转的旋转座，其上设有数个夹具模块，且该夹...

本实用新型提供一种芯片剥折工艺的供料装置，用以在一机台上对将一待剥条芯片剥折成条状芯片的一剥折机构进行供料，包括：设于该机台上供一片状芯片置放的一置料机构；设于该机台上，执行将该片状芯片剥除待剥除部位，以剩下该待剥条芯片的一折边机构；设...

本实用新型提供一种量测罩盖及使用该量测罩盖的工件量测装置，该量测罩盖包括：一本体，设有一第一表面与一第二表面；该第一表面上设有一第一视窗，该第二表面上设有一安装区间，该第一视窗与该安装区间相连通；一压制件，对应设于该安装区间内，该压制件...

本发明一种电子元件载盘取放方法及机构，包括：提供一载盘，其上以矩阵排列待加工元件，载盘上覆设有上盖；提供一第一组吸附元件；提供一第二组吸附元件；以第一组吸附元件吸附载盘，以第二组吸附元件吸附上盖；藉此使具有载盘及覆盖物的组件进行取放。

一种载台及使用载台的晶圆搬送方法及加工装置；该载台包括：承载待加工元件的定位盘；设有支撑架用于支撑定位盘于固定高度的固定座；设于固定座上的顶升机构，其包括由驱动件驱动可作上、下位移的升降平台；升降平台设数个支撑件，其一端固设于该升降平台...

本发明提供一种液材挤出方法及装置，包括：提供一驱动腔体，内设有腔室，腔室中设有一压电致动器及一柱塞机构，使该压电致动器可受微调并经由一杠杆机构对该柱塞机构中的一柱塞作动，并借该柱塞挤出液材；一定位手段，使该压电致动器与该杠杆机构的定位关...

本发明一种电子元件分选装置，用以将完成检测的受测元件进行分类，包括：一检测机构，用以对受测元件进行检测，设有将完成检测的受测元件予以排出的管路；一分选机构，包括：可在一设有多个分配管的分配座上位移的分配头，该分配头与该检测机构的受测元件...

本发明提供一种取放装置，包括：设有一底座及一机架，该机架设于该底座上，该机架内设有一容置区间，该容置区间可供置放一容置架，该容置架内可供容置待加工物料；该取放装置设有一整压机构，其设有一整压工作区在两个整压组件之间；该容置架内的该待加工...

本发明提供一种供收料方法及设备，包括：一第一取放装置，设有一底座及一机架，该机架设于该底座上，该机架内设有一容置区间，该容置区间可供置放一容置架，该容置架内可供容置待加工物料；一第一整位装置，设有一整位平台供该待加工物料置放，该整位平台...

本发明是一种铁芯卷绕线材的方法及装置，包括：使用一卷绕机构对一夹具上夹持的铁芯进行卷绕线材，在进行卷绕前，先将预定卷绕在该铁芯上的线材预先卷绕在一预卷绕机构的一预绕组件上，使进行铁芯卷绕线材时，该铁芯上所卷绕的线材由该已预先卷绕线材的该...

本发明提供一种液材挤出装置及其液室座离合方法及机构，包括：在一本体中设有压电致动器连动一杠杆机构，以驱动一阀针机构的一阀针；一液室座设于该本体下方，该液室座设有一连接部，并于该连接部设有一连接头可供接设一容置液材的储液筒，该液室座中设有...

本发明提供一种液材挤出装置及其闭锁检测方法及机构，包括：一驱动模块，包括一驱动腔体，内设有一腔室，该腔室中设有一压电致动单元、一杠杆机构与一检测单元；该杠杆机构可受该压电致动单元的作用力驱动使一杠杆向下摆动；该检测单元用于检测一柱塞的一...

一种探针、探针模块、探针装置及使用该探针装置的电子元件检测方法及设备，该探针包括：一本体部；一由该本体部向上延伸的延伸部；一针身部，设于延伸部上方；该本体部、该延伸部与该针身部，三者分别具有不同的水平宽度，宽度由宽至窄的排序为该本体部>...

本发明提供一种元件搬送方法及装置，包括：以一转动台带动一取放组件至一送料出口上方；使该取放组件相对该转动台上、下位移以提取该送料出口的元件；在该取放组件提取元件后以间歇性旋转流路搬送元件至一载置台上方；使该取放组件相对该转动台上、下位移...

本发明提供一种电子元件检测方法、装置及使用于该检测方法的载盘，该检测方法包括：一搬送步骤，使一载盘以间歇性旋转流路搬送一载槽内的一待测元件经一检测区域；一挡抵步骤，该待测元件停留在该检测区域时，使一挡抵件由间歇性旋转流路外移入该载槽内；...