本发明提供一种DDR4功能测试系统及方法，包括：FPGA模块，所述FPGA模块与待测DDR4连接，用以获取测试信息指令，基于所述测试信息指令向待测DDR4发出输入测试信号并获取来自待测DDR4的输出测试信号，且基于所述输入测试信号和所述...

本申请提供一种柔性电路故障定位的方法，包括：获取发生故障的柔性电路；对所述柔性电路进行检测，以确定所述柔性电路的故障类型；基于所述故障类型，确定所述柔性电路的故障点位。本申请使得柔性电路的故障定位过程简便有效，利于推广的同时，还便于根据...

本申请提供一种稳压器的检测系统及稳压器检测方法，所述检测系统包括测试工位，外围电路和检测设备；所述测试工位用于固定待测稳压器；所述外围电路包括稳压电路和切换电路，所述稳压电路用于连接所述待测稳压器和所述检测设备，并对电压进行稳压保护；所...

本申请提供一种电阻器检测方法及相关设备，该方法包括：获取多组电阻器；电阻器包括基板、第一电极层以及阻挡层；多组电阻器中的每组电阻器的数量相同；将多组电阻器分为两类，得到第一类电阻器和第二类电阻器；第一类电阻器和第二类电阻器的组数相同；刺...

本申请提供一种图像传感器的动态老炼系统及图像传感器的动态老炼方法，所述动态老炼系统包括顺次连接的主控计算机、主控制板及固定装置；固定装置包括多个测试板，每个测试板用于固定一待测图像传感器；主控计算机与主控制板连接，主控制板包括多个子控制...

本申请提供一种器件失效测试方法、测试装置、电子设备及存储介质，所述测试方法，通过先确定标准器件的多种状态，根据预设测试点，对标准器件的多种状态进行失效测试，得到标准曲线组，也即得到了未失效器件的多种状态下的TDR曲线。在确定被测器件的多...

本申请提供一种工程结构随机载荷的功率谱密度确定方法及相关设备，所述方法包括获取与工程结构关联的加速度对应的第一功率谱密度，对第一功率谱密度进行谱分解，得到虚拟加速度响应值；基于工程结构的工程参数，获取第一功率谱密度中的每个频点对应的传递...

本公开提供一种电源模块类器件的板级试验测试方法及系统，包括：对电源模块类器件的被测件传输电信号，得到被测件的输出信号；对被测件提供负载，得到被测件的性能参数；对电信号、输出信号、负载和/或性能参数进行故障检测，得到电信号、输出信号、负载...

本公开提供一种多层瓷介电容的失效处理方法、装置、设备及存储介质。所述方法包括：响应于确定多层瓷介电容失效，确定所述多层瓷介电容的实际裂纹状态；利用有限元模拟仿真构建所述多层瓷介电容的有限元三维模型；对所述有限元三维模型设置边界条件和模拟...

本申请提供一种弹性元件加速贮存试验方法，包括：确定弹性元件的目标变形量；在预存储的试验参数数据库中，确定多个试验温度分别对应的加速贮存试验的加速系数；基于所述目标变形量和各加速系数，确定所述弹性元件在多个试验温度下的加速贮存试验的加速时...

本申请提供一种高密度QFN封装器件引线牢固性测试装置，包括：夹持组件，用以固定QFN封装器件，QFN封装器件上设有多个焊盘；盖板，所述盖板抵接QFN封装器件设有焊盘的表面，所述盖板上设有多个预留孔，每个所述预留孔均与一QFN封装器件焊盘...

本申请提供一种元器件质量问题监测方法，其特征在于，包括：计算获取的待监测数据的每个样本批次对应的第一统计值；计算待监测数据的每个质量风险因素对应的第二统计值；利用预先计算确定的预警阈值和第一统计值进行质量预警；基于第二统计值计算每个质量...

本申请提供一种用于QFN封装类微波集成芯片的自动测试装置、系统及方法，包括：测试组件，包括切换矩阵开关以及与所述切换矩阵开关连接的多个测试接口，所述切换矩阵开关用以切换多个所述测试接口与待测芯片的连接；控制组件，与所述测试组件连接，用以...

本申请提供一种材料热导率的测量装置，包括：高温实验箱，用以容纳待测材料；加热结构，位于所述高温实验箱内，其输出端用以与所述待测材料接触；红外热像仪，位于所述高温实验箱内，其拍摄端用以朝向所述待测材料设置，以获取所述待测材料上的温度分布情...

本申请提供一种微机电系统器件电热特性确定方法及装置，所述方法包括：确定待测器件的初始试验电流；以初始试验电流为起点逐渐调节试验电流，确定待测器件在不同试验电流下的第一电热特性参数；根据第一电热特性参数随试验电流的变化，确定试验电流和第一...

本申请提供一种硅片刻蚀液，包括以下组分：H<subgt;2</subgt;O<subgt;2</subgt;、HF、Cu(NO<subgt;3</subgt;)<subgt;2</subg...

本说明书提供了一种MEMS加速度计寿命评估方法、装置及设备，涉及MEMS加速度计领域。该方法通过对核心应力进行步进施加，监测各个性能参数，得到核心应力极限范围；在核心应力极限范围内，构建核心应力组合试验方案，对MEMS加速度计进行恒加速...

本申请提供一种高温振动试验装置，包括试验箱、振动台和加湿结构；所述试验箱的外壁设有控制端，所述控制端与所述振动台和所述加湿结构电连接；所述振动台位于所述试验箱内，且与所述试验箱的内壁固定连接，所述振动台的顶部嵌设有加热管，待试验物品位于...

本申请提供一种弱驱动电平转换电路测试系统及方法，所述测试系统包括：待测器件，包括第一端和第二端；分别与第一端和第二端连接的检测设备，检测设备用于向待测器件提供电源，且位于第一端的检测器件向待测器件输出待测器件输出检测信号，位于第二端的检...

本申请实施例提供一种达林顿晶体管阵列检测方法，包括：利用晶体管测试仪对器件的两两引脚进行测试，得到两两引脚之间的I‑V曲线；对于I‑V曲线异常的两引脚，当施加预定的电压时利用红外热成像检测得到第一异常亮点，将电源极性翻转并施加该电压，利...