本申请提供一种元器件失效风险监测预警方法及相关设备，基于层次聚类完成对元器件的性能参数测试数据集的分类，将相关性较大的变量聚到一个类簇，得到多个聚类结果。再基于高斯混合模型对每个聚类结果建模，然后建完模之后依据统计量的定义来计算包络分析...

基于部件级寿命信息的整机级产品寿命分析方法及装置，该方法对整机级产品包括的部件级产品开展应力加速贮存试验，获得部件级产品的性能参数退化轨迹信息；应力加速贮存试验中根据给定的性能初始值、性能变化速度常数和老化时间确定部件级产品在指定时刻的...

一种贮存服役后产品的寿命加速因子评估方法及装置，该方法利用待评估产品对象测试获取的k个性能参数构建性能参数曲线；构建性能老化模型，对性能老化模型利用最小二乘法求解，并利用试验数据计算指定温度下的产品退化速率，获取性能参数的估计值后，求出...

本申请提供一种高低频联动控制冲击波形装置及方法，所述装置设置夹具用于固定待测试品；第一响应板设置在夹具远离待测试品的一侧，应力波调节模块设置在第一响应板远离夹具的一侧；第二响应板设置在应力波调节模块远离第一响应板的一侧，检测装置设置在第...

本发明涉及相变微胶囊技术领域，具体是指一种相变微胶囊及其制备方法，包括如下步骤：S1：将单体、交联剂和过氧化二苯甲酰(BPO)溶解于石蜡中，得油相溶液；石蜡为25号石蜡；S2：将水溶性乳化剂加入水中，调节pH至弱酸性，得水相溶液；S3：...

本申请提供一种多工位差分晶振测试系统及方法，所述测试系统，包括温箱，测试板，设置在温箱内，可以实现设置在测试板上的晶振在不同温度环境下的测试。测试板包括母板和多个子板，母板上设有与子板配合的测试工位，每个测试工位包括相连接的插座和输出插...

本申请提供一种基于ATE的通用源表程控系统及芯片测试方法，所述基于ATE的通用源表程控系统包括ATE测试模块、第一上位机、源表程控自动配置装置以及外接源表模块，通过在源表程控自动配置装置构建兼容不同类型外接源表的SCPI命令集，进而通过...

本申请提供一种元器件的知识图谱融合方法、装置、电子设备及存储介质，所述方法包括获取元器件对应的文本数据；将所述文本数据输入至预先构建的实体抽取模型，通过所述实体抽取模型输出所述文本数据包含的多个头实体；将每个头实体依次输入至预先构建的关...

本申请提供一种压控振荡器测试装置，包括：测试底座，包括底座主体，底座主体设置有测试容纳腔，测试容纳腔内设置有包括多条微带线的测试电路板；多个同轴转微带连接器，连接于底座主体；每个同轴转微带连接器包括同轴连接端和微带连接端，微带连接端伸入...

本技术提供一种适用不同封装元器件自动摆盘的中央转盘芯片底座，设置在运转工位，所述中央转盘芯片底座包括中央运转盘，周围阵列设有多个安装座；多个承载座，每一承载座设置在一安装座上，承载座上设有安装位；多个承载盘，每一承载盘设置在一安装位内，...

本申请提供一种低噪声放大器的电磁抗扰测试的试验方法及相关设备，所述方法包括获取至少两个预设的电磁波集合，每一所述电磁波集合均包括多个不同功率的电磁波；通过低噪声放大器逐一接收一电磁波集合内的多个不同功率的电磁波，并针对每一所述电磁波生成...

一种耐高温、高粘合性嵌段聚酰亚胺树脂的制备方法，包括S1：室温下，将A段结构所需的3,4’‑联苯二酐(3,4‑BPDA)和芳香族二异氰酸酯加入具有氮气保护的非质子极性溶剂中搅拌，得到酸酐封端的聚酰亚胺低聚物A；S2：室温下，将B段结构所...

本发明涉及相变微胶囊技术领域，具体是指一种相变微胶囊复合烧蚀热防护材料的制备方法，包括如下步骤：S1：将树脂单体分散在相变材料中，在非水溶剂中乳化得到乳液，升温聚合形成树脂预聚物网络得到初步包裹的相变微胶囊；S2：将上述初步包裹的相变微...

本公开提供一种加速腐蚀试验的设计方法、实验方法及装置。具体地，加速试验装置，包括：环境暴露箱，用于容纳被测试样；盐雾喷淋系统，用于模拟海洋环境的盐雾条件并作用于所述被测试样；温度和湿度控制系统，用于控制所述环境暴露箱中的温度和湿度；以及...

本公开提供一种芯片检测方法、装置、电子设备及存储介质。所述方法包括：将多个待测芯片设置在多种环境中，并对多个待测芯片多次输入测试向量集，采集每种环境下每次输入测试向量集过程中每个待测芯片对应的电磁辐射曲线；对每种环境下每次输入测试向量集...

本申请提供一种微控制器的自动配置测试系统及方法，通过构建兼容各种型号MCU的嵌入式应用程序库，通过应用自动配置系统接收ATE测试台的应用程序调用指令，进而高效地完成MCU芯片测试所需应用程序的集中管理及有序烧录。可以实现不同测试项对应的...

本公开提供一种基于腐蚀协同效应的疲劳性能加速效果的评估与预测方法及相关设备。具体地，获取并利用被测试样的常态疲劳试验数据和腐蚀疲劳试验数据；确定常态疲劳应力‑寿命关系方程和腐蚀疲劳应力‑寿命关系方程；基于所述常态疲劳应力‑寿命关系方程和...

本公开提供一种舵轴转动机构的摩擦力矩测试系统及测试方法，属于测试设备技术领域，其中，摩擦力矩测试系统包括模拟转动组件、第一加载组件、第二加载组件及测量组件，模拟转动组件包括主舵轴及与主舵轴连接的舵操纵杆，所述舵操纵杆被配置为受轴向载荷作...

本申请提供一种元器件失效监测系统、方法、电子设备及存储介质，所述失效监测系统包括：待测元器件基板，一侧设有多个监测区域，每个监测区域包括第一接地端和测试端；这样，将待测元器件基板上的焊点进行分区监测，并且每个监测区域上均设有用于测试的第...

本发明属于芯片测试技术领域，具体涉及一种非缓冲型ADC芯片测试系统和测试方法。一种非缓冲型ADC芯片测试系统，包括ATE测试系统、测试子板和外部仪器；测试子板的模拟信号输入端设计有至少三种输入配置，其中一种为ATE模拟板卡AWG通道，且...