本申请提供一种高功率微波对雷达接收机的损伤的仿真方法及相关设备。高功率微波对雷达接收机的损伤的仿真方法包括：建立高功率微波信号模型；建立雷达接收机的放大器晶体管模型；将高功率微波信号模型的电磁脉冲输入至雷达接收机的放大器晶体管模型中，得...

本申请提供一种复合材料振动试验装置、振动试验方法及检测方法，所述试验装置包括用于安装试验件的安装位；其中，试验件包括多个第一类试验件和多个第二类试验件，安装位包括与第一类试验件相配合的多个第一类安装位和与第二类试验件相配合的多个第二类安...

本申请提供一种电子元器件的检测方法，包括：调整待检测器件的偏置电压，以使得待检测器件处于工作环境下的电路中；使用辐射源产生的高能粒子照射所述待检测器件；获取照射前后待检测器件的参数变化数据；基于参数变化数据，确定所述待检测器件的输出特性...

本申请提供一种封装器件的单粒子效应的测试方法及相关设备，所述方法包括对所述封装器件进行电性能测试；响应于确定所述封装器件通过所述电性能测试，利用预设单粒子对所述封装器件进行辐照；响应于确定所述封装器件经过所述辐照后出现单粒子效应，记录所...

本申请提供一种陶瓷密封器件、开封方法及相关设备，所述陶瓷密封件包括陶瓷壳体，设置于陶瓷壳体内的芯片，陶瓷壳体两端设有电极，芯片通过导电件与两个电极导通，形成导通回路，可满足轻、小、薄的需求，陶瓷具有高熔点、高硬度、高耐磨性、耐氧化等优点...

本申请提供一种电子器件的装联适应性验证方法及相关设备，所述方法包括对所述电子器件中的焊接点进行焊接检查；响应于确定所述焊接点通过所述焊接检查，对所述电子器件进行应用环境测试；响应于确定所述电子器件通过所述应用环境测试，对所述焊接点进行金...

本申请提供一种半导体器件的单粒子效应模拟方法、装置、设备及介质，能够根据重离子的生成速率和入射重离子注量进行环境模拟。然后，通过脚本语言构建仿真半导体器件；可在真实半导体器件上装之前对真实半导体器件进行辐照能力模拟，不会对真实半导体器件...

本公开提供一种防空体系的可靠性评估方法及相关设备，包括：确定目标设备的状态转移方程；基于所述状态转移方程确定所述目标设备的状态转移矩阵；基于所述状态转移矩阵确定所述目标设备的状态转移概率；基于所述状态转移概率评估所述目标设备的可靠性。本...

本公开提供了一种元器件质量态势等级确定方法、装置、设备及存储介质，根据元器件型号规格信息查找对应的质量检验试验结果信息；试验结果信息为多个，计算对应每个试验的标准差信息；对每个标准差信息是否为零进行判断，得到每个质量检测试验对应的判断结...

本申请提供一种化学品安全转运车，其特征在于，包括：箱体，箱体内部自上而下依次设有承载层和保护层，其中承载层包括防护板和托盘，防护板上开设有多个放置孔，放置孔与化学品包装瓶外径适配，用于限制化学品包装瓶在水平方向的位移；托盘设置在防护板的...

本申请提供一种针对FPGA辐照单粒子效应测试方法。包括：提供经过电性能测试的FPGA芯片；将经过电性能测试的FPGA芯片至于DUT载板，并置于设置有高能粒子辐照终端的靶室内；将上位机安装于高能粒子辐照终端的靶室的辐照源外侧，并将DUT载...

本申请提供的一种稳压电路及稳压电路内部元器件失效顺序判定方法，所述稳压电路，包括稳压器和电流放大器，在电源向负载供电时，通过稳压器和电流放大器为负载提供稳定电压，保证负载稳定运行。采用稳压器和电流放大器成本较低。所述方法通过根据稳压器的...

本申请提供一种电子器件去湿装置及方法，该电子器件去湿装置，包括：容腔、机械泵、载台和送风机；其中，容腔的腔体上设置有与机械泵连接的第一通孔和与送风机连接的第二通孔，机械泵通过第一通孔调节容腔内的压强、送风机通过第二通孔向容腔内输入去湿气...

本申请实施例提供一种分立器件的自动装配系统及装配方法。分立器件的自动装配系统，包括控制模块；与控制模块电连接的老炼板传输机构、柔性上料器、吸取机构和抓取机构；柔性上料器、吸取机构和抓取机构分别与老炼板传输机构连接；老炼板传输机构包括支撑...

本申请提供了工业级元器件评价方法，在调研国产工业级元器件现状及应用风险的基础上，基于工业级元器件薄弱要素，设置试验对其物理特性、功能性能、极限及环境适应性进行系统性摸底，建立可靠性评价与验证体系，评价工业级元器件能否满足装备质量及可靠性...

本公开提供一种测试转接装置，包括适配器底座和至少一拼接式连接器，所述拼接式连接器包括多个连接单元，所述连接单元上设有定位发射器；所述适配器底座上设有用以与所述连接单元连接的多组孔位，每个所述孔位上设有用以接收所述定位发射器发出的信号的定...

本技术提供了一种高速集成电路动态参数测试系统，包括：测试电路板，包括ATE接口、示波器接口和测试接口，ATE接口与测试接口的输入端连接，示波器接口与测试接口的输出端连接，测试接口用于连接待测器件；示波器，与示波器接口连接，用于将待测器件...

本申请提供一种集成电路测试方法、装置、电子设备及存储介质。集成电路测试方法包括：获取待测集成电路的目标测试项目，基于所述目标测试项目编写输入代码及触发所述输入代码的测试激励代码，其中，所述输入代码包括所述目标测试项目对应的电路逻辑；基于...

本发明提供一种测试板卡、测试板卡工装及板卡测试方法，属于芯片技术领域，其中，测试板卡包括主控芯片、信号采集模块、供电模块及通讯模块，信号采集模块与所述主控芯片连接，所述信号采集模块用于采集所述待测板卡输出的模拟电压信号，并将采集的模拟电...

本申请提供一种锯齿波试验三角锥铅块的制备模具，包括框架及分别设置于所述框架上的模具本体、动力机构、锁定机构、滑移机构和翻转机构，所述模具本体的相对两侧均固定连接有转轴，所述转轴分别与所述动力机构、所述滑移机构和所述翻转机构连接；所述框架...