本申请涉及信号检测技术领域，公开了一种老化状态信号检测方法、装置、终端设备及存储介质，所述方法包括：按照检测周期，实时获取被测设备的老化状态信号；在预设时长内，对所述老化状态信号进行边沿检测，并保存检测结果；根据所述检测结果，确定所述预...

本技术公开一种散热机柜，包括：柜体、装放架和至少一个第一隔板，柜体的第一侧板设有多个用于向内送风的第一风机，多个第一风机沿上下方向依次分布；装放架包括上下层叠分布的多个装放空间，装放架设于柜体内，装放空间面向第一侧板的一侧和背向第一侧板...

本申请涉及指令处理技术领域，公开了一种指令分类处理方法、装置、终端设备及存储介质。所述方法包括：当接收到上位机下发的指令包时，对所述指令包中的指令进行分类；根据所述指令的种类，将所述指令包分配至对应类别的并行线程，同时将所述指令包缓存至...

本发明的实施例提供了一种固态硬盘高温测试装置及其热管理方法，涉及微电子封装与测试技术领域。本固态硬盘高温测试装置包括测试箱体、进风通道、出风通道、加热组件、检测组件和测试组件。测试箱体内设有多个测试工位。测试箱体的两端设置有进风口和出风...

本技术提供一种SSD全自动化测试系统及SSD生产线，涉及硬盘技术领域。SSD全自动化测试系统包括测试机构、上料机构、下料机构、第一夹持机构、外形检测机构、装卡机构和堆垛机构，测试机构能够检测SSD卡的性能参数；上料机构能够输送SSD卡；...

本申请公开了一种液冷板及芯片测试压头，涉及芯片测试技术领域。液冷板包括液冷板本体及至少两组扰流组件；所述液冷板本体中开设有供液冷工质流动的流道，所述流道配置有与所述液冷工质流动方向垂直的宽度方向；所述至少两组扰流组件在所述宽度方向上相间...

本技术提供一种SSD卡测试设备及SSD卡生产线，涉及硬盘技术领域。该SSD卡测试设备包括若干测试柜和运载装置，每个测试柜均具有多个测试腔；运载装置具有多个储存腔，储存腔能够放置测试载具，且运载装置能够移动；其中，当运载装置移动至测试柜的...

本技术提供一种上下料装置及芯片测试自动分选设备，涉及芯片测试领域。该上下料装置包括多个储料件、第一拾取件、第二拾取件和料盘切换件，料盘位于储料件，多个储料件分为空料储料件、上料储料件和下料储料件；下料储料件和上料储料件分别位于第一上下料...

本发明提供一种节能型高低温环境试验箱制冷系统及其控制方法，涉及制冷系统技术领域。系统包括加热器、蒸发器、双级活塞压缩机、涡旋压缩机、换热器、低温节流阀和高温节流阀；加热器用于加热测试负载，蒸发器用于冷却测试负载；在测试负载需求温度处于预...

本申请涉及存储测试设备技术领域，尤其涉及一种USB HUB远程控制电路及远程控制系统，包括：通讯接口、微控制器、N个电源控制单元及USB HUB模块，N≥1；USB HUB模块包括N个USB端口；微控制器分别连接N个电源控制单元；N个电...

本发明提供了一种存储芯片的测试电路及测试系统，包括：测试电路和多个子测试电路；测试电路设置有可编程的逻辑阵列和多个I/O扩展电路；可编程的逻辑阵列通过多个I/O扩展电路扩展可编程的逻辑阵列的管脚，得到多个测试管脚；不同的子测试电路设置不...

本申请提供一种老化柜及测试系统，涉及芯片领域。该老化柜包括柜体和调节件，柜体具有测试腔体、电源腔体、换气口和排气口，测试腔体通过换气口与电源腔体连通；调节件和柜体连接，且调节件能够调节换气口的开口面积。本申请能够通过智能化调节换气口的开...

本发明公开了一种导电胶、导电胶制备方法及芯片测试插座，涉及芯片测试技术领域。该导电胶包括绝缘胶体及导电气凝胶，绝缘胶体上贯穿设置有注胶孔，导电气凝胶填充于注胶孔，用于建立芯片与基板之间的电连接。本发明提供的导电胶生产成本更低、导电性更加...

本技术公开一种固态硬盘送料装置，包括：载盘架，用于装载放置固态硬盘的料盘，料盘的一侧设有卡槽；移盘机构，移盘机构包括气动夹爪和驱动组件，驱动组件的输出执行端与气动夹爪连接，气动夹爪包括缸体、设于缸体上的活塞杆和与活塞杆连接的两夹爪部，气...

本申请实施例提供了一种多槽位SSD的测试装置、方法及电子设备，属于固态硬盘测试技术领域。其中装置包括：供电模块、选择模块、主控模块、通信模块和测试槽位；供电模块，分别与选择模块和主控模块电连接，用于对主控模块进行供电；测试槽位，分别与通...

本发明提供一种芯片三温测试机及测试系统，涉及芯片检测技术领域。该芯片三温测试机包括测试模组、预热模组和转运模组，测试模组具有若干个测试工位，测试工位用于放置芯片；其中，测试模组能够测试位于测试工位的所述芯片；预热模组具有多个预热工位，预...

本发明公开一种测试电路及测试方法，所述测试电路包括：电源接入模块、电源模块、开关模块、功耗测试模块和主控模块；主控模块用于控制开关模块的开合状态，以控制电源接入模块是否接入所在回路；电源接入模块用于接入输入电源；电源模块用于将输入电源进...

本发明涉及设备检测领域，公开了一种多通道输出与监控的程控电源板、测试设备和检测系统，所述电源板包括：电源输入接口、电源输出接口、电源输出模块和采样模块；所述电源输入接口用于连通外部电源，所述电源输出模块和所述电源输入接口通过I2C总线连...

本技术提供一种固态硬盘生产测试系统及固态硬盘生产线，硬盘测试技术领域。该固态硬盘生产测试系统包括测试柜和测试载具，测试柜包括柜体、开卡模块、RDT测试模块和BIT测试模块；柜体具有若干个测试腔，每个测试腔均设置有第一金手指插槽连接器，每...

本技术涉及微电子封装与测试领域，具体公开了一种芯片老化测试温箱，包括：箱体，箱体内设有测试腔，测试腔用于放置待测芯片，箱体具有与测试腔连通的进风口、出风口；风机，风机的气体出口与进风口连通；分流件，分流件位于箱体内且处于进风口处，分流件...