成都态坦测试科技有限公司专利技术

成都态坦测试科技有限公司共有79项专利

  • 本技术公开一种固态硬盘送料装置,包括:载盘架,用于装载放置固态硬盘的料盘,料盘的一侧设有卡槽;移盘机构,移盘机构包括气动夹爪和驱动组件,驱动组件的输出执行端与气动夹爪连接,气动夹爪包括缸体、设于缸体上的活塞杆和与活塞杆连接的两夹爪部,气...
  • 本申请实施例提供了一种多槽位SSD的测试装置、方法及电子设备,属于固态硬盘测试技术领域。其中装置包括:供电模块、选择模块、主控模块、通信模块和测试槽位;供电模块,分别与选择模块和主控模块电连接,用于对主控模块进行供电;测试槽位,分别与通...
  • 本发明提供一种芯片三温测试机及测试系统,涉及芯片检测技术领域。该芯片三温测试机包括测试模组、预热模组和转运模组,测试模组具有若干个测试工位,测试工位用于放置芯片;其中,测试模组能够测试位于测试工位的所述芯片;预热模组具有多个预热工位,预...
  • 本发明公开一种测试电路及测试方法,所述测试电路包括:电源接入模块、电源模块、开关模块、功耗测试模块和主控模块;主控模块用于控制开关模块的开合状态,以控制电源接入模块是否接入所在回路;电源接入模块用于接入输入电源;电源模块用于将输入电源进...
  • 本发明涉及设备检测领域,公开了一种多通道输出与监控的程控电源板、测试设备和检测系统,所述电源板包括:电源输入接口、电源输出接口、电源输出模块和采样模块;所述电源输入接口用于连通外部电源,所述电源输出模块和所述电源输入接口通过I2C总线连...
  • 本技术提供一种固态硬盘生产测试系统及固态硬盘生产线,硬盘测试技术领域。该固态硬盘生产测试系统包括测试柜和测试载具,测试柜包括柜体、开卡模块、RDT测试模块和BIT测试模块;柜体具有若干个测试腔,每个测试腔均设置有第一金手指插槽连接器,每...
  • 本技术涉及微电子封装与测试领域,具体公开了一种芯片老化测试温箱,包括:箱体,箱体内设有测试腔,测试腔用于放置待测芯片,箱体具有与测试腔连通的进风口、出风口;风机,风机的气体出口与进风口连通;分流件,分流件位于箱体内且处于进风口处,分流件...
  • 本技术公开一种芯片老化测试柜温控装置,用于芯片老化测试柜,芯片老化测试柜包括内柜体和位于内柜体中的多层测试板,芯片老化测试柜温控装置包括:多个送风组件,每一个送风组件对应于一层测试板上下设置,用以朝向测试板垂直吹风;风机,风机具有进气口...
  • 本技术公开一种半导体芯片老化测试柜,包括:外柜;内胆,设置于所述外柜内,所述内胆的外壁与所述外柜的内壁之间形成风道,所述内胆的一侧为与所述风道连通的进风侧,另一侧为与所述风道连通的出风侧;风机组件,安装于所述外柜上,用于控制所述风道中的...
  • 本技术公开一种用于大功率芯片测试的冷却装置,该用于大功率芯片测试的冷却装置包括风冷柜体、导流组件和多个液冷组件,风冷柜体开设有第一进风口和出风口;导流组件设置在所述风冷柜体的第一进风口处;所述液冷组件包括液体入口和液体出口,所述液冷组件...
  • 本申请实施例提供了一种多路驱动复用系统、方法、电子设备及介质,属于可编程集成电路设计领域。其中系统包括:控制模块、多个驱动模块、通道选择模块和多个输出模块;根据确定的目标输出模块产生驱动信号,根据驱动信号从多个驱动模块调用目标驱动模块;...
  • 本技术公开一种测试插箱和测试装置,其中,测试插箱包括箱体、隔板和老化板,箱体设有进风口和出风口;隔板设置在箱体内,将箱体的内腔分隔成第一腔和第二腔,第一腔与进风口连通,第二腔与进风口及出风口均连通;老化板相对隔板设置在第二腔内,并与隔板...
  • 本技术提供一种芯片载板及飞梭装置,属于芯片装配技术领域。芯片载板包括载板本体;载板本体限定出多个相间隔阶梯槽,阶梯槽至少包括第一安装槽和第二安装槽,第二安装槽设置在第一安装槽的槽底;沿第一方向,第一安装槽和第二安装槽呈渐缩设置;阶梯槽的...
  • 本申请公开了一种测试压头,涉及芯片测试技术领域。测试压头包括半导体制冷器、压头和第一液冷板;所述半导体制冷器设置于所述压头与所述第一液冷板之间,所述半导体制冷器包括相背的第一侧面和第二侧面,所述第一侧面与所述第一液冷板热传导连接,所述第...
  • 本技术提供一种芯片载板及飞梭装置,属于芯片装配技术领域。芯片载板包括载板本体、承载块和限位板;载板本体限定出多个相间隔的缺口;承载块设置在缺口中,承载块的两相对侧分别设有第一连接部和第二连接部,第一连接部与缺口的内壁连接;承载块的外周设...
  • 本申请公开了一种老化测试设备,涉及芯片测试技术领域。老化测试设备包括设置有测试腔、风道、柜门和敞口的机柜,与柜门连接的第一驱动装置、与测试板可拆卸连接的第二驱动装置以及设置于风道内的鼓风装置和控温装置。测试腔内的每个测试位用于放置一个承...
  • 本技术提供一种芯片老化柜,属于芯片检测技术领域。芯片老化柜包括柜体、测试箱、第一扰流板和风机装置;柜体限定出腔体;测试箱限定出容纳腔,测试箱设置在腔体中,以在测试箱和腔体的内壁之间限定出环形气流通道;测试箱的两相对侧分别设有进气部和排气...
  • 本申请公开了一种芯片测试座检测装置,涉及芯片检测技术领域。芯片测试座检测装置包括底板单元、安装架、压板单元和吸嘴单元底板单元用于承载芯片测试板;安装架沿第一方向组滑动安装于所述底板单元;压板单元滑动安装于所述安装架的一侧,所述压板单元的...
  • 本发明提供一种测试装置及测试机,涉及芯片领域。该测试装置包括多个测试机构、飞梭机构和第一夹取机构,多个测试机构分为多组,多组测试机构分别设置于不同高度处,同组的测试机构沿第一方向依次设置,且测试机构能够接收并测试芯片;飞梭机构具有至少一...
  • 本技术公开一种锁持装置和物料转运设备,该锁持装置包括主体、锁持机构、第一弹性件和解锁机构;主体具有容纳腔,锁持机构设于主体的一侧,锁持机构至少部分位于容纳腔内,锁持机构可沿第一方向往复移动以伸出或缩回至容纳腔,第一弹性件设于容纳腔内,一...