本申请公开了一种老化测试设备，涉及芯片测试技术领域。老化测试设备包括设置有测试腔、风道、柜门和敞口的机柜，与柜门连接的第一驱动装置、与测试板可拆卸连接的第二驱动装置以及设置于风道内的鼓风装置和控温装置。测试腔内的每个测试位用于放置一个承...

本发明提供一种固态硬盘生产测试系统及固态硬盘生产线，硬盘测试技术领域。该固态硬盘生产测试系统包括测试柜和测试载具，测试柜包括柜体、开卡模块、RDT测试模块和BIT测试模块；柜体具有若干个测试腔，每个测试腔均设置有第一金手指插槽连接器，每...

本发明公开一种测试插箱和测试装置，其中，测试插箱包括箱体、隔板和老化板，箱体设有进风口和出风口；隔板设置在箱体内，将箱体的内腔分隔成第一腔和第二腔，第一腔与进风口连通，第二腔与进风口及出风口均连通；老化板相对隔板设置在第二腔内，并与隔板...

本申请提供一种通讯故障预测方法、装置、设备及存储介质，涉及机器学习技术领域，该方法包括：采集待预测设备运行时间段产生的通讯特征数据；将通讯特征数据输入构建的故障预测模型进行预测，以获得待预测设备的通讯故障类型；其中，故障预测模型通过对通...

本发明提供一种接口寿命检测电路、方法、设备及介质，涉及固态硬盘技术领域，所述电路包括在位检测模块及插拔计数管理模块；在位检测模块用于检测固态硬盘的接入情况，并根据接入情况发送检测信号给插拔计数管理模块；插拔计数管理模块用于根据检测信号统...

本发明提供一种芯片老化柜，属于芯片检测技术领域。芯片老化柜包括柜体、测试箱、第一扰流板和风机装置；柜体限定出腔体；测试箱限定出容纳腔，测试箱设置在腔体中，以在测试箱和腔体的内壁之间限定出环形气流通道；测试箱的两相对侧分别设有进气部和排气...

本发明公开单片机程序升级方法、装置、可读存储介质及电子设备，使用串口接收与单片机对应的第一程序更新指令，根据该第一程序更新指令判断是否接收到新固件，若是，则将新固件备份至单片机的备份区，并将新固件复制至单片机的程序区，使用串口发送程序运...

本发明公开一种芯片老化测试柜温控装置，用于芯片老化测试柜，芯片老化测试柜包括内柜体和位于内柜体中的多层测试板，芯片老化测试柜温控装置包括：多个送风组件，每一个送风组件对应与一层测试板上下设置，用以朝向测试板垂直吹风；风机，风机具有进气口...

本发明涉及微电子封装与测试领域，具体公开了一种芯片老化测试温箱，包括：箱体，箱体内设有测试腔，测试腔用于放置待测芯片，箱体具有与测试腔连通的进风口、出风口；风机，风机的气体出口与进风口连通；分流件，分流件位于箱体内且处于进风口处，分流件...

本申请公开了一种测试压头，涉及芯片测试技术领域。测试压头包括半导体制冷器、压头和第一液冷板；所述半导体制冷器设置于所述压头与所述第一液冷板之间，所述半导体制冷器包括相背的第一侧面和第二侧面，所述第一侧面与所述第一液冷板热传导连接，所述第...

本发明公开一种固态硬盘送料装置，包括：载盘架，用于装载放置固态硬盘的料盘，料盘的一侧设有卡槽；移盘机构，移盘机构包括气动夹爪和驱动组件，驱动组件的输出执行端与气动夹爪连接，气动夹爪包括缸体、设于缸体上的活塞杆和与活塞杆连接的两夹爪部，气...

本技术公开一种老化测试支撑板及老化测试设备，该老化测试支撑板包括：基板，用于支撑老化测试板，基板的支撑面设置有多个互相间隔的凹腔，每一凹腔内均设有加强筋，加强筋与凹腔的腔壁连接，基板背离其支撑面的另一面设置有多个散热孔，每一散热孔贯穿支...

本申请公开了一种芯片测试座检测装置，涉及芯片检测技术领域。芯片测试座检测装置包括底板单元、安装架、压板单元和吸嘴单元底板单元用于承载芯片测试板；安装架沿第一方向组滑动安装于所述底板单元；压板单元滑动安装于所述安装架的一侧，所述压板单元的...

本发明公开一种用于大功率芯片测试的冷却装置，该用于大功率芯片测试的冷却装置包括风冷柜体、导流组件和多个液冷组件，风冷柜体开设有第一进风口和出风口；导流组件设置在所述风冷柜体的第一进风口处；所述液冷组件包括液体入口和液体出口，所述液冷组件...

本发明提供一种上下料装置及芯片测试自动分选设备，涉及芯片测试领域。该上下料装置包括：多个储料件、第一拾取件、第二拾取件和料盘切换件，料盘以叠摞的方式位于储料件，多个储料件分为空料储料件、上料储料件和下料储料件；下料储料件和上料储料件分别...

本发明公开一种芯片测试座清洁装置的清洁头，包括：清洁件主体；连接杆，连接杆的一端一体成型有第一螺纹杆，连接杆的另一端一体成型有第二螺纹杆，第一螺纹杆与清洁件主体螺纹连接；清洁件，与第二螺纹杆螺纹连接，清洁件远离第二螺纹杆的一侧为清洁面，...

本发明提供一种SSD卡测试设备及SSD卡生产线，涉及硬盘技术领域。该SSD卡测试设备包括若干测试柜和运载装置，每个测试柜均具有多个测试腔；运载装置具有多个储存腔，储存腔能够放置测试载具，且运载装置能够移动；其中，当运载装置移动至测试柜的...

本发明提供一种SSD全自动化测试系统及SSD生产线，涉及硬盘技术领域。SSD全自动化测试系统包括测试机构、上料机构、下料机构、第一夹持机构、外形检测机构、装卡机构和堆垛机构，测试机构能够检测SSD卡的性能参数；上料机构能够输送SSD卡；...

本发明公开一种芯片测试座清洁装置及芯片测试设备，该芯片测试座清洁装置包括：安装架；驱动机构，与所述安装架连接；至少一个清洁组件，设于所述安装架上并可随所述安装架移动，所述清洁组件包括用于对芯片测试座进行粘灰清洁的粘灰头。本发明芯片测试座...

本发明公开一种芯片测试座、芯片测试装置和芯片测试系统，其中，芯片测试座包括承载块，承载块的顶面设有凹槽，凹槽的两个相对的侧壁上分别设有一沿顶面延伸设置的条形孔，两条形孔正对；承载块的外壁上设有吹气孔和抽气孔，一条形孔与吹气孔连通，另一条...