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一种缺陷处理方法及缺陷处理器技术
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文档序号:9642345
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本发明公开了一种缺陷处理方法,包括:通过SDDL-EXP,生成语法类缺陷模式;其中,所述SDDL-EXP为预定的值相关缺陷模式语言;根据所述语法类缺陷模式,在被测代码中查找检测点,并将所述语法类缺陷模式中的缺陷发生的条件实例化;根据预设的规...
该专利属于北京邮电大学所有,仅供学习研究参考,未经过北京邮电大学授权不得商用。
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