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本实用新型涉及一种集成电路测试治具，由以下部件组成：盖子主体、卡钩、压板、顶针、第一弹簧、盖板、第二弹簧和卡钩弹簧；其中盖板、压板、第一弹簧和顶针由紧固件紧固组成顶针机构；该顶针结构设在盖子主体内腔，所述顶针为阶梯状，第一弹簧设在盖板和顶针...
该专利属于上海韬盛电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海韬盛电子科技有限公司授权不得商用。

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