温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明提供了一种能够减少测试时间的修复控制电路和使用修复控制电路的半导体集成电路。所述半导体集成电路包括：多个存储块，其中布置有多个字线；多个字线驱动器，所述多个字线驱动器响应于多个存储块选择信号而驱动多个字线中的一个或更多个；以及修复控制...
该专利属于爱思开海力士有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过爱思开海力士有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。