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本实用新型提供了一种高速晶粒检测设备的摆动式探针座，所述摆动式探针座包括固定基座、摆动台、探针和固定导电片，其中，所述摆动台的下表面的中段枢接在所述固定基座上，所述探针贯穿经过所述摆动台的前端面和后端面，并露出头端和尾端。其中，当所述摆动台...
该专利属于台北歆科科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过台北歆科科技有限公司授权不得商用。

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