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本发明公开了一种基线动态测量系统的精度获取方法。该方法包括：天线模拟运动平台产生天线运动所需要的运动轨迹，基线动态测量系统和激光跟踪仪同时测量天线模型上其合作目标的位置和姿态变化，分别得到天线模型的相位中心的位置和姿态变化；根据基线动态测量...
该专利属于中国科学院电子学研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院电子学研究所授权不得商用。

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