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本发明公开一种基于光致发光的太阳能晶硅硅片质量预测、控制方法，包括进行硅片取样，构建硅片样本库；用激光编码器将所取的硅片进行标识；使用光致发光测试系统对硅片测试，并使用读码器读取其身份信息；将硅片按生产工艺制作成电池片，测试电池的电学参数；...
该专利属于韩华新能源（启东）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过韩华新能源（启东）有限公司授权不得商用。

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