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公开了一种分析静电阱（14）中的质谱分析的方法。静电阱（14）限定静电场体积，并且包括具有静止的非倾斜电势的阱电极。该方法包括将连续的离子束注入到静电场体积中。...
该专利属于莱克公司所有，仅供学习研究参考，未经过莱克公司授权不得商用。

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