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本发明提供粒径分布测量装置及粒径分布测量方法，能对应试样容易地设定计数器的选通门打开的时间。所述装置包括：光射出部，向在分散介质中运动的粒子群照射光；光接收部，根据从所述粒子群发出的散射光的光子数输出脉冲信号；并列设置的多个多位计数器，具有...
该专利属于株式会社堀场制作所所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社堀场制作所授权不得商用。

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