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本实用新型涉及一种用于单晶晶棒测量的装置。普通的单晶晶棒测量时，需要经常性搬动晶棒，劳动强度很大，本实用新型用于单晶晶棒测量的装置就是结合晶棒尺寸设计个圆台，可旋转，在测量一侧的电性能后旋转圆台，即可测量另一侧的性能，无需搬动晶棒，从而大大...
该专利属于晶科能源有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过晶科能源有限公司授权不得商用。

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