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观测单个发光粒子的偏振特性的光分析装置、光分析方法以及用于该方法的光分析用计算机程序制造方法及图纸
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文档序号:8936929
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本发明提供一种使用利用共焦显微镜或多光子显微镜的光测量的扫描分子计数法来观测发光粒子的偏振特性的方法。在本发明的观测发光粒子的偏振特性的光分析技术中,一边通过变更显微镜的光学系统的光路使光学系统的光检测区域的位置在样本溶液内移动,一边向光检...
该专利属于奥林巴斯株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过奥林巴斯株式会社授权不得商用。
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