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存储器芯片测试机制造技术
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下载存储器芯片测试机的技术资料
文档序号:8897854
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本实用新型揭露一种存储器芯片测试机,至少一测试盘,具有一上表面及相对于该上表面的一下表面;多个放置槽,形成于该测试盘的上表面,并于每该放置槽内具有一贯穿该测试盘的测试孔;至少一测试基板,具有一上表面及相对于该上表面的一下表面,配置于该测试盘...
该专利属于标准科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过标准科技股份有限公司授权不得商用。
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