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西安华芯半导体有限公司
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存储器的纠错方法技术
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文档序号:8883734
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本发明提供一种存储器的纠错方法,解决了现有ECC编码过程中由于数据屏蔽的存在,导致不能顺利进行编码产生监督位或产生监督位需增加存储阵列面积的问题。该存储器的纠错方法包括以下步骤:1]读入外部数据,根据设定的规则产生监督位,同时产生表征位,将...
该专利属于西安华芯半导体有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过西安华芯半导体有限公司授权不得商用。
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