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本发明公开了一种晶片传输疲劳度测试的方法，包括：晶片传输开始(1)、实时监控和采集各个运动部件的状态(2)、是否有故障(3)、记录故障部件、类型和次数(4)、晶片传输完成(5)、循环传输N次(6)、根据采集和记录故障，画出直观图表(7)、同...该专利属于北京中科信电子装备有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京中科信电子装备有限公司授权不得商用。
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本发明公开了一种晶片传输疲劳度测试的方法，包括：晶片传输开始(1)、实时监控和采集各个运动部件的状态(2)、是否有故障(3)、记录故障部件、类型和次数(4)、晶片传输完成(5)、循环传输N次(6)、根据采集和记录故障，画出直观图表(7)、同...