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本发明提出了一种可用于补偿晶振老化的方法，该方法利用晶振的老化规律对晶振的老化进行补偿。该方法的典型结构由四部分组成，包括：计时装置、计算单元、存储单元和晶振。其中，计时装置用于记录晶振的使用时间；计算单元根据晶振使用时间和存储单元值进行老...
该专利属于北京七芯中创科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京七芯中创科技有限公司授权不得商用。

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