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本实用新型公开一种自动测量目标对单光子偏振态影响的系统，它由高重频窄脉冲激光源、衰减片、分光棱镜、透射式目标模块、反射式目标模块、检偏器及旋转电机组件、第一单光子探测器、一维电动平台、第二单光子探测器、单光子计数器、电机控制器和计算机组成，...
该专利属于中国科学院上海技术物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院上海技术物理研究所授权不得商用。

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