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用于利用邻近修正来控制晶片和掩膜的电子束曝光的方法技术
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下载用于利用邻近修正来控制晶片和掩膜的电子束曝光的方法的技术资料
文档序号:8097249
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本发明涉及用于制造晶片和掩膜的电子束光刻的方法。为了减小干扰性的邻近效应的影响,使用扩展的修正算法用于控制电子束,该算法使更精确的修正成为可能。因此,本发明的任务在于,创造一种经改善的修正方法,用该方法能够最优地控制图案的所有图形的对比度和...
该专利属于埃克易康软件耶拿有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过埃克易康软件耶拿有限公司授权不得商用。
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