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本发明涉及一种用于校正在磁共振拍摄(30)中的失真的方法。失真表明了在磁共振拍摄(30)中图像点的失真的位置与图像点的实际位置之间的位移。在该方法中，确定对于在磁共振设备(1)中的至少一个实际位置的B0场偏差和梯度场偏差。此外，采集检查对象...
该专利属于西门子公司所有，仅供学习研究参考，未经过西门子公司授权不得商用。

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