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本发明公开了一种颗粒不圆度的测量方法及系统，涉及不圆度测量技术领域，所述方法包括：S1：获取待测颗粒的X射线干板照片；S2：利用所述X射线干板照片获取所述待测颗粒的图像；S3：识别所述图像上所述待测颗粒的边界，并利用所述边界获取所述待测颗粒...
该专利属于清华大学所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学授权不得商用。

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