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本发明提供X线分析装置，其通过用所需最小限度的动作仅对测定者需要的试料上的区域进行测定，能够缩短映射分析所需的测定时间。对映射像与试料的图像数据进行重叠处理，确定与照射点相应的位置，根据其结果进行图像显示，在该显示的图像中指定测定实施区域，...
该专利属于精工电子纳米科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过精工电子纳米科技有限公司授权不得商用。

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