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基于SOI的纵向堆叠式后栅型Si-NWFET制造方法技术
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下载基于SOI的纵向堆叠式后栅型Si-NWFET制造方法的技术资料
文档序号:7700877
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本发明的基于SOI的纵向堆叠式后栅型硅纳米线场效应晶体管制备方法,包括:在SOI上交替沉积硅层和锗硅层,形成鳍形有源区并在鳍形有源区内形成硅纳米线,接着在源漏区之间形成隔离介质层;并在硅纳米线表面形成栅极氧化层;最后在所述鳍形有源区内的SO...
该专利属于上海华力微电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海华力微电子有限公司授权不得商用。
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