温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明涉及一种利用巯基乙酸修饰的ZnS纳米颗粒作为纳米荧光探针对奈韦拉平的快速测定方法，属光分析检测技术领域。本发明主要是利用ZnS纳米荧光探针与待测物奈韦拉平发生作用后荧光强度发生变化，通过荧光光谱分析对奈韦拉平进行灵敏的定量分析测定。本...
该专利属于上海大学所有，仅供学习研究参考，未经过上海大学授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。