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一种具有光电导效应的钯掺杂碳膜/氧化物/半导体材料制造技术
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下载一种具有光电导效应的钯掺杂碳膜/氧化物/半导体材料的技术资料
文档序号:6652807
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本发明提供了一种具有光电导效应的钯掺杂碳薄膜/氧化物/半导体材料,是将掺杂原子数含量为0~5%钯的石墨复合靶溅射到厚度为0.5~1.0毫米的带有氧化物的半导体衬底上,形成一层厚度为20~200纳米的薄膜,制成钯掺杂碳薄膜/氧化物/半导体材料...
该专利属于中国石油大学(华东)所有,仅供学习研究参考,未经过中国石油大学(华东)授权不得商用。
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