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100线0.5节距陶瓷四边引线扁平封装器件老化测试插座制造技术
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文档序号:6400566
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本实用新型涉及一种微电子元器件老化测试装置,能对引线根数100线0.5节距陶瓷四边引线扁平封装器件可靠性进行高温老化试验和测试的插座。本实用新型按100线陶瓷四边引线片式载体系列、0.5节距封装元器件的结构设计和尺寸要求,将插座设计成三大组...
该专利属于曹金学所有,仅供学习研究参考,未经过曹金学授权不得商用。
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