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具有厚底部屏蔽氧化物的沟槽双扩散金属氧化物半导体器件的制备制造技术
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下载具有厚底部屏蔽氧化物的沟槽双扩散金属氧化物半导体器件的制备的技术资料
文档序号:6371882
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本发明涉及提出了一种半导体器件的制备方法。器件的制备方法包括:在半导体层中制备;用绝缘材料填充沟槽;除去所选的部分绝缘材料,留下在沟槽底部的一部分绝缘材料;在剩余部分沟槽的一个或多个侧壁上,制备一个或多个隔片;使用一个或多个隔片作为掩膜,各...
该专利属于万国半导体股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过万国半导体股份有限公司授权不得商用。
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