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本发明涉及一种以＜１μｍ的分辨率测量物体中的温度和／或温度分布的方法以及用于实施该方法的装置，更特别地涉及一种实施该方法的显微镜。该方法包括在物体上施加被埋入基体层中的分子温度计，用所述显微镜的光源光激发所述的分子温度计以及用所述显微镜的两...
该专利属于索尼德国有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过索尼德国有限责任公司授权不得商用。

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