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本发明公开一种用于二维Ｘ－射线探测器（３１５）的增益校准，其中单独地测量或估计用于散射辐射（３０７ｂ）和直射辐射（３０７ａ）的增益系数。可以将加权平均应用到适当的散射分数。依赖于散射分数的增益校准方法与公知的增益校准方法相比，在Ｘ－射线图像...
该专利属于皇家飞利浦电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过皇家飞利浦电子股份有限公司授权不得商用。

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