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本发明公开了一种太阳质子事件导致航天电子器件发生单粒子翻转风险的分析评估方法，包括以下步骤：S1.建立航天电子器件靶材模型，计算目标器件SEU截面与质子能量关系；S2.分析航天器件在轨质子辐射环境要素，获取探测数据并计算SPE的辐射通量；S...
该专利属于南京信息工程大学所有，仅供学习研究参考，未经过南京信息工程大学授权不得商用。

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