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本发明公开了一种双相TPMS点阵结构的等效力学性能分析方法及其应用，属于材料结构技术领域。本发明通过将双相TPMS点阵结构中的两种材料通过等效理论方法等效为一种材料，由于使用单种材料进行模拟时可用壳单元建立模型进行计算，壳模型再曲面壁厚度上...
该专利属于武汉理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过武汉理工大学授权不得商用。

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