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本技术提出了一种用于SSD存储装置的测试座，其包括：基座、底座和若干弹性探针，所述基座包括一体设置的基座本体和分隔板，所述基座本体的上端面中部开设有向下贯通至所述分隔板的上端面的第一插槽，所述基座本体的下端面中部开设有向上贯通至所述分隔板的...
该专利属于苏州英世米半导体技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州英世米半导体技术有限公司授权不得商用。

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