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本申请实施例提供一种测试设备及内存测试方法，其中所述测试设备，用于测试内存通路；所述测试设备包括：模拟电路，所述模拟电路用于模拟内存颗粒的电气特性；连接通路，与内存通路连接，用于通过内存通路接收来自处理器发送的内存测试信号，并传递至所述模拟...
该专利属于成都海光集成电路设计有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过成都海光集成电路设计有限公司授权不得商用。

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