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本发明公开了一种基于图神经网络的EDA多层设计规则检查系统与方法，用于集成电路设计的高效和精确设计规则检查。该系统将待检测模型，即集成电路版图中的各类多边形作为图神经网络的节点，节点向量将包含对象的坐标、面积、形状等几何信息，边向量则根据节...
该专利属于上海芯轫科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海芯轫科技有限公司授权不得商用。

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