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本发明属于电子工程中评估稀有事件的方法领域，具体涉及一种应用于电子工程中高Sigma场景的失效区域评估方法。应用于电子工程中高Sigma场景的失效区域评估方法，包括以下步骤：建立初始样本、建立预测模型、筛选高风险样本、仿真高风险样本并计算偏...
该专利属于北京大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京大学授权不得商用。

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