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本发明提供一种薄膜材料磁阻效应测量方法、系统、存储介质及程序产品，涉及电学测量技术领域；所述方法包括：按照设定电流信息，控制供电模块对电磁器件进行循环通电；电磁器件用于在通电后生成磁场；待测薄膜器件设置在磁场的范围内，通过磁场对待测薄膜器件...
该专利属于北京科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京科技大学授权不得商用。

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