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本技术公开了一种对位检测装置,其包括第一光源、第二光源、光线处理组件和取像组件,光线处理组件包括第一光线处理件和第二光线处理件,第一光源发出第一光线,第一光线照射第一检测工位的第一工件,第一光线的反射光线通过第一光线处理件到达取像组件,第二...该专利属于广东奥普特科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过广东奥普特科技股份有限公司授权不得商用。
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