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用于扫描应用的无限远校正显微镜物镜制造技术
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文档序号:43993974
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本发明公开了一种用于扫描应用的无限远校正显微镜物镜(2),其具有取决于集光率(G)的少量透镜,使得它具有在0.8mm<supgt;2</supgt;到1.8mm<supgt;2</supgt;范围内的第一集光率(G1...
该专利属于卡尔蔡司显微镜有限责任公司所有,仅供学习研究参考,未经过卡尔蔡司显微镜有限责任公司授权不得商用。
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