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基于信号传输性能分析的MIV故障诊断系统及其方法，涉及三维集成电路测试技术领域。解决现有单片层间通孔MIV测试方法可诊断故障范围有限的问题。诊断系统包括一个测试控制器和多个测试单元；所述测试控制器用于向各测试单元发送测试指令。基于诊断系统实...
该专利属于哈尔滨工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过哈尔滨工业大学授权不得商用。

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