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本技术公开一种引线框架变形检验治具，包括基座，基座上表面设有第一平面，第一平面可支撑引线框架上的引线脚并使引线脚在第一平面上直线滑动，第一平面的至少一侧设有滑槽，滑槽的底部设有第二平面，第二平面可支撑引线框架上的芯片载体并使芯片载体在第二平...
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