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用于半导体光电器件微区带宽测试系统及方法技术方案
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文档序号:43782707
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本申请涉及智能化测试领域,具体涉及一种用于半导体光电器件微区带宽测试系统及方法。其通过引入基于人工智能和深度学习的信号处理和分析算法来对于所述微弱电信号进行信号分解和特征分析,以此来提取出该微弱电信号中的分量信号特征以及这些分量信号特征之间...
该专利属于深圳大学所有,仅供学习研究参考,未经过深圳大学授权不得商用。
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