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本技术公开了一种集成电路老化测试装置，包括高温老化箱体、由上至下依次设在高温老化箱体内的多个放置架，每一放置架上均设有一检测板，所述高温老化箱体设有密封门，所述密封门上可拆卸设有匚形的把手杆，所述放置架包括一对相对的滑杆以及间隔设在一对滑杆...
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