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本发明提供了磁粒子成像设备系统矩阵校准方法、装置及设备。方法包括：在预设二维切片层基于交叉下采样方法进行采样处理，得到原始LR SM数据；预设二维切片层为MPI设备三维FOV内的每一个二维切片层；对原始LR SM数据进行频率筛选，得到高信噪...
该专利属于西安电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安电子科技大学授权不得商用。

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