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本申请公开了一种存储装置的老化测试方法和老化测试设备,该老化测试方法包括:获取被测存储装置的闪存颗粒类型;利用闪存颗粒类型从配置文件中获取对应的测试参数;基于测试参数形成对应的老化测试程序;利用老化测试程序对被测存储装置进行老化测试。本申请...该专利属于上海江波龙数字技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海江波龙数字技术有限公司授权不得商用。
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本申请公开了一种存储装置的老化测试方法和老化测试设备,该老化测试方法包括:获取被测存储装置的闪存颗粒类型;利用闪存颗粒类型从配置文件中获取对应的测试参数;基于测试参数形成对应的老化测试程序;利用老化测试程序对被测存储装置进行老化测试。本申请...