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本申请提供了一种使用计算机断层扫描(CT)技术检测月壤粒度的方法，实现了无接触、无污染且无损失的检测。本申请还提供了一种采用联合三维X射线显微镜、光学显微镜和/或扫描电子显微镜月壤样品进行粒度检测的方法，从而充分利用了不同检测方法的测量优势...
该专利属于中国科学院地质与地球物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院地质与地球物理研究所授权不得商用。

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