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本技术公开了一种芯片测试分选装置，包括工作台，工作台上设有测试设备，所述工作台上设置有固定装置、移动装置和显示装置，所述固定装置包括承载板、第一安装板和放料盒，所述移动装置设置在工作台上，且承载板和所述移动装置连接，所述显示装置设置在承载板...
该专利属于上海北芯集成电路技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海北芯集成电路技术有限公司授权不得商用。

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