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本技术公开了一种半导体器件测试电路。半导体器件测试电路包括:功率模块、多个电流采样模块、开关模块和处理模块;功率模块的输出端与被测器件的控制端或被测器件的第一端连接;功率模块配置为按照处理模块输出的调节信号产生动态电压至被测器件;电流采样模...该专利属于英诺赛科(珠海)科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过英诺赛科(珠海)科技有限公司授权不得商用。
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