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一种调试方法、装置、电子设备及可读存储介质制造方法及图纸
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下载一种调试方法、装置、电子设备及可读存储介质的技术资料
文档序号:43376671
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本发明实施例提供一种调试方法、装置、电子设备及可读存储介质,该方法包括:在模拟器运行过程中按照预设规则对所述模拟器的运行状态进行快照保存;在所述模拟器运行出错的情况下,将与所述模拟器的错误现场相匹配的历史快照保存至存储模块;从所述存储模块中...
该专利属于北京开源芯片研究院所有,仅供学习研究参考,未经过北京开源芯片研究院授权不得商用。
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